гетеропереход inas / si, образованный методом мокрой пластины, с температурой отжига 350 ° C, был исследован методом просвечивающей электронной микроскопии (темп). inas и si наблюдались равномерно скрепленными без каких-либо пустот в поле зрения длиной 2 мкм в ярком полевом изображении. изображение с высоким разрешением показало, что междуInAsи si решетчатых изображений существовал переходный слой...
мы сообщаем об увеличении экситаксической химии белой бесклеточной нанопроволоки на основе цинк-обманки. выращенный InSb сегменты представляют собой верхние участки гетероструктур inas / insb на подложках inas (111) b. мы показываем, посредством анализа hrtem, что инкрустацию цинковой обманкой можно выращивать без каких-либо дефектов кристалла, таких как дефекты упаковки или плоскости двойниковани...
в сегментах были выращены на вершинах гаасских островов, первоначально созданных каплеобразной эпитаксией на кремниевой подложке. мы систематически изучали пространство параметров роста для осаждения inas, определяя условия селективного роста на СаАз и для чисто аксиального роста. осевые сегменты были сформированы со своими боковыми стенками, повернутыми на 30 $ {{} ^ circ} $ по сравнению с базовы...
Облучение ионного пучка было рассмотрено как способ создания наноразмерных полупроводниковых столбчатых и конусообразных структур, но имеет недостаток в неточном размещении наноструктур. Мы сообщаем о методе создания и шаблонирования наноразмерных InAs спайки путем фокусированного ионного пучка (FIB) облучения как гомоэпитаксиальных пленок InAs, так и гетероэпитаксиальных InAs на подложках InP. Эт...
Контактная информация
luna@powerwaywafer.compowerwaymaterial@gmail.com 
+86-592-5601 404
