3-6. краевые чипы

что ты ищешь?

luna@powerwaywafer.com

powerwaymaterial@gmail.com

Главная / Сервисы / знание / 3. Определения эпитаксии карбида кремния /

3-6. краевые чипы

3. Определения эпитаксии карбида кремния

категории

Рекомендуемые продукты

последние новости

Теория функционала плотности Расчеты атомных конфигураций и ширины запрещенной зоны кристаллов Si, легированных C, Ge и Sn, для солнечных элементов

2020-03-17
Электропроводность структур GaAs/GaAs с прямым соединением на пластинах для тандемных солнечных элементов на основе пластин

2020-03-09

3-6. краевые чипы

2018-01-08

области, где материал был непреднамеренно удален с пластины. Не путайте переломы в эпи-кроне с кромочными чипами.

предыдущий : 3-7. id правильный и основной пластины пластины
следующий: 3-5. чистота задней поверхности

свяжитесь с нами

если вам нужна цитата или дополнительная информация о наших продуктах, пожалуйста, оставьте нам сообщение, ответьте как можно скорее.

Подписывайтесь на нас

горячие теги

Контактная информация

Wafer Foundry: 26-32#, Liamei Rd. Lianhua Industrial Area, Tong an, Xiamen 361100, China

luna@powerwaywafer.com
powerwaymaterial@gmail.com
+86-592-5601 404

присоединиться к нашему сообществу

linkin

Copyright © 2012 Xiamen Powerway Advanced Material Co., Ltd. All Copy Right Reserved.

Контактная информация
luna@powerwaywafer.com
powerwaymaterial@gmail.com
+86-592-5601 404

теперь говорите свяжитесь с нами & nbsp;